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相控陣探傷儀的技術(shù)優(yōu)勢(shì)有哪些？

發(fā)布時(shí)間：2020-05-31

相控陣探傷儀通過(guò)軟件可以單獨(dú)控制相控陣探頭中每個(gè)晶片的激發(fā)時(shí)間，從而控制產(chǎn)生波束的角度、聚焦位置和焦點(diǎn)尺寸。

1.實(shí)時(shí)彩色成像，包括A/B/C/D和S-掃描，便于缺點(diǎn)判讀，不會(huì)誤判或漏判缺點(diǎn)；

2.相控陣技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)線性掃查、扇形掃查和動(dòng)態(tài)深度聚焦，從而同時(shí)具備寬波束和多焦點(diǎn)的特性，因此檢測(cè)速度可以更快更準(zhǔn)；

3、相控陣具有更高的檢測(cè)靈活性，可以實(shí)現(xiàn)其它常規(guī)檢測(cè)技術(shù)所不能實(shí)現(xiàn)的功能，如對(duì)復(fù)雜工件檢測(cè)；

4、容易檢測(cè)各種走向、不同位置的缺點(diǎn)，缺點(diǎn)檢出率高，檢測(cè)范圍廣，定量、定位精度高；

5、掃查裝置簡(jiǎn)單，便于操作和維護(hù)；使用更便捷，對(duì)人體無(wú)傷害，對(duì)環(huán)境無(wú)污染；

6、檢測(cè)結(jié)果受人為因素影響小，數(shù)據(jù)便于儲(chǔ)存、管理和調(diào)用，以及連接電腦打印查看。也可以直接連接鼠標(biāo)在儀器上操作。

7、可以節(jié)省許多成本費(fèi)用，一探頭和各角度楔塊的多用處，可以自動(dòng)生成圖文缺點(diǎn)報(bào)告，若有內(nèi)部網(wǎng)路可以直接發(fā)送質(zhì)檢報(bào)告到數(shù)據(jù)中心查閱。

如今相控陣檢測(cè)團(tuán)隊(duì)中的主力成員更加出色！OmniScan 探傷儀曾經(jīng)憑借其結(jié)果可靠、圖像清晰、使用方便等特性脫穎而出，成為全球范圍內(nèi)便攜式相控陣領(lǐng)域中的標(biāo)桿性儀器，如今這款儀器又新添了諸如全聚焦方式（TFM）圖像等一些強(qiáng)大的功能，從而可使用戶更加信心十足地完成檢測(cè)工作。

如果您以前使用過(guò)OmniScan儀器，那么您會(huì)對(duì) OmniScanX3探傷儀有一種非常熟悉的感覺(jué)：依然保留了高度便攜的特性和適用于工業(yè)環(huán)境的堅(jiān)固外殼，不過(guò)其用戶界面更為簡(jiǎn)潔明快、更具現(xiàn)代感。如果您從來(lái)沒(méi)有用過(guò)這種儀器，您會(huì)很快發(fā)現(xiàn)OmniScan為什么可以成為備受世界各地檢測(cè)人員歡迎和信賴(lài)的標(biāo)桿性儀器。

以上部分內(nèi)容摘自百度百科。