72DL 超薄材料測厚
發布時間：2024-06-04
一、 檢測對象 試塊材質為高分子材料,其他背景客戶未告知。
二、 實驗設備 ? 主機：奧林巴斯測厚儀 72DL ? 探頭：M2104 ? 耦合劑
三、 實驗數據 1. 一號試塊：0.05mm。 2、二號試塊：0.025mm。３、三號試塊：0.015mm。
四、實驗結論 采用奧林巴斯超聲測厚儀 72DL 配合高頻 M2104 探頭,可以滿足 0.015mm 厚度測量。
發布時間：2024-06-04
一、 檢測對象 試塊材質為高分子材料,其他背景客戶未告知。
二、 實驗設備 ? 主機：奧林巴斯測厚儀 72DL ? 探頭：M2104 ? 耦合劑
三、 實驗數據 1. 一號試塊：0.05mm。 2、二號試塊：0.025mm。３、三號試塊：0.015mm。
四、實驗結論 采用奧林巴斯超聲測厚儀 72DL 配合高頻 M2104 探頭,可以滿足 0.015mm 厚度測量。
